晶格条纹测量几种方法TEM(晶格条纹测量几种方法标尺)「晶格条纹怎么量」

方法一1. 打开DM软件与HRTEM图片2. 校准标尺,用左侧红圈的直线工具沿着标尺长度划一条线(可同时按住shift键,保证直线水平)3. 点analysis菜单下的calibrate选项,设置长度为5nm(原标尺的尺寸)4. 删除所画直线,再点击左侧工具栏中红圈工具,沿垂直于晶格条纹的方向划线,画大概10几个晶格间距的长度,会弹出如下图矩形框所示小窗口5. 选取一个峰单击往后拉10个峰位置的距离,显示距离3.406nm,即晶格间距0.34nm。
方法二:直接测量标尺校准后,选取如图所示直线工具,沿着垂直于晶格条纹的方向画10个的距离,左侧下方红色矩形框显示长度为3.43nm,即晶格间距0.343nm方法三:由傅里叶变换计算1. 标尺校准后,选取如图所示矩形选框工具,选取一个区域做矩形选框(同时按住Alt键,保证选框一定是正方形),再点击process菜单栏下的FFT选项2. 会弹出如图所示傅里叶变换图像,再选取如图直线工具,在图上对称的亮点之间连线(可用放大镜工具适当放大,方便精确位置),读取左下角矩形框中的数值为5.74 1/nm,用2除以此数据,得0.348 nm,即为晶格间距
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